如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話,可以
產(chǎn)品名稱:
射頻注入探頭
產(chǎn)品型號(hào):
P500
產(chǎn)品展商:
Langer
產(chǎn)品文檔:
無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
射頻注入探頭P500來(lái)自功率放大器的射頻干擾通過(guò)探頭流向被測(cè)針腳，同時(shí)在探頭**進(jìn)行電流和電壓的測(cè)量。射頻注入探頭P500可以記錄下的參數(shù)可以繪制IC的EMC特性，得出更正確的結(jié)論。大電流時(shí)，因磁性原因產(chǎn)生功能故障，大電壓時(shí)，因耦合電容產(chǎn)生故障。
射頻注入探頭
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品說(shuō)明：
一個(gè)固定功率的射頻通過(guò)耦合到IC針腳上來(lái)表征其抗干擾的能力。IC的故障則可顯示內(nèi)部干擾。來(lái)自功率放大器的射頻干擾通過(guò)探頭流向被測(cè)針腳，同時(shí)在探頭**進(jìn)行電流和電壓的測(cè)量。記錄下的參數(shù)可以繪制IC的EMC特性，得出更正確的結(jié)論。大電流時(shí)，因磁性原因產(chǎn)生功能故障，大電壓時(shí)，因耦合電容產(chǎn)生故障。新的測(cè)量程序下，無(wú)功電流的測(cè)量不能由一個(gè)共同的測(cè)量功率進(jìn)行。因此，詳細(xì)的檢查結(jié)果仍是未知的。但是電路板的發(fā)展得益于新的測(cè)量方法，那就是射頻注入。
總體技術(shù)參數(shù)：
|
探頭型號(hào)
|
Probe 501
|
Probe 502
|
Probe 503
|
|
電流表頻率
|
2 MHz - 3 GHz
|
2 MHz - 3 GHz
|
200 kHz - 1.5 GHz
|
|
大電流
|
1 A
|
1 A
|
1 A
|
|
電壓表頻率
|
16 kHz - 3 GHz
|
16 kHz - 3 GHz
|
16 kHz - 3 GHz
|
|
大電壓
|
50 V
|
1 V
|
50 V
|
|
轉(zhuǎn)移因子
|
- 40 dB
|
0 dB
|
- 40 dB
|
|
耦合電容
|
3 μF oder 6.8 nF*
|
3 μF oder 6.8 nF*
|
3 μF oder 6.8 nF*
|
|
大功率傳輸
|
30 W
|
30 W
|
30 W
|
|
輔助供電:
|
12 V
|
12 V
|
12 V
|
