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四軸定位IC掃描儀

]資料
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產品名稱: 四軸定位IC掃描儀
產品型號: ICS 105 set
產品展商: Langer
產品文檔: 無相關文檔


簡單介紹
ICS 105型四軸定位IC掃描儀，可對集成電路和小型組件進行高頻近場測量。ICS 105 set 四軸定位IC掃描儀還可以單獨訂購的 ICR 型近場微探頭適用于 1.5MHz 至 6GHz 頻率范圍內的測量，空間分辨率可達50μm。

四軸定位IC掃描儀

的詳細介紹

  • ICS 105 set, 四軸定位IC掃描儀
  • ICS 105 application with CS-Scanner software
    ICS 105 application with CS-Scanner software
  • ICS 105 with SH 01 probe holder
    ICS 105 with SH 01 probe holder
  • ICS 105 with UH DUT universal holder
    ICS 105 with UH DUT universal holder
  • ICS 105 set with UH DUT universal holder and device under test
    ICS 105 set with UH DUT universal holder and device under test
ICS 105型集成電路掃描儀，可對集成電路和小型組件進行高頻近場測量。根據使用的探頭情況，可在 (50x50x50) mm 的空間范圍內對磁場或電場進行測量，并在電腦上顯示測量結果。此外，探頭可自動旋轉以確定磁場的準確方向。 可單獨訂購的 ICR 型近場微探頭適用于 1.5MHz 至 6GHz 頻率范圍內的測量，空間分辨率可達 50μm。

Technical parameters
電源電壓 110 / 230 V
接口 USB
大過程路徑 (50 x 50 x 50) mm
α-Rotation ±180°
小過程路徑 (10 x 10 x 10) μm
α-Rotation 1°
移動速度 (10 x 10 x 5) mm/s α-Rotation 90°/s
重量 23 kg
尺寸 (L x W x H) (350 x 400 x 420) mm
3D-掃描 3D-掃描
表面掃描 表面掃描

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